FZ単結晶シリコンウェーハプライムテストダミーグレード

FZシリコンウェーハ 成長方法はフロートゾーンで、主に低ドーパントまたは高抵抗率の非ドーパントです。抵抗率はほとんど>1000 Ohm.cmです。ただし、場合によっては、均一性の向上と抵抗率の低下を実現するために、NTD 照明と GD ガスドーピングによってゾーンメルティングシリコンロッドのドーピングを行うこともできます。シリコン基板の仕様が必要な場合は、お問い合わせください。

チョクラルスキー単結晶シリコンウェーハ成長方法:CZ 主なプロセスは、多結晶シリコンをるつぼに入れ、加熱して溶かし、単結晶シリコンの種結晶をクランプしてるつぼの上に吊るすことです。真っすぐに引く場合は、片方の端をメルトに差し込み、溶けるまでゆっくりと回転させながら上に引っ張ります。このようにして、液体と固体の界面で徐々に凝縮して単結晶が形成されます。このプロセス全体は種結晶を複製するプロセスとみなすことができるため、生成されるシリコン結晶は単結晶シリコンとなる。チョクラルスキー法は炭素と酸素の含有量が比較的多く、不純物や欠陥が多いですが、コストは低いです。通常、Czシリコンウェーハのドーパントはリン、ボロン、Sb、Asです。

加工方法により、CZ Si単結晶、FZ Si単結晶、MCZ Si単結晶に分けられます。ゾーンメルトシリコン単結晶は、主にパワーエレクトロニクスデバイスや高出力トランジスタの製造に使用されます。磁性シリコン単結晶は主に CCI デバイスの製造に使用されます。生産量の 90% はチョクラルスキー シリコン単結晶で作られており、集積回路やその他のディスクリート コンポーネントの製造に使用されます。目的に応じて回路レベルのシリコン単結晶、検出器レベルのシリコン単結晶などに分けることができます。CZ、MCZ、FZ mを供給できます結晶シリコンインゴット。

酸化シリコンウェーハは、ベアシリコンウェーハ表面に均一な酸化膜を熱成長させたものです。酸化プロセスには、高温ドライ酸化と高温ウェット酸化が含まれます。

シリコンウエハの表面に金属膜を蒸着することで、電極配線やトランジスタなどの部品を作製できます。これらの金属膜は良好な導電性と安定性を備えており、回路の正常な動作を保証できます。一般的に金属膜は金、プラチナ、アルミニウム、銅、銀などです。

LPCVDによるシリコンウェーハ上へのSi3N4膜。

エピタキシープロセスは、実際には薄層単結晶成長技術であり、シリコン単結晶の基板上に、バルク単結晶と一致する特定の導電型、抵抗率、厚さ、格子構造を有する新しい単結晶層を結晶方向に沿って成長させることを含みます。特定の条件。

多くの範囲で強い吸収ピークを持つサンプルの試験に適しており、バックグラウンドノイズの影響を差し引くことができます。ゼロ回折シリコンウェーハの在庫がございます。お気軽にお問い合わせください。

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実際の生産前のテスト用に適用された 12 インチのダミー。試験装置にも応用されています。12インチシリコンウェーハを豊富に在庫しており、非常に安い価格でご提供しております。お問い合わせをお送りください。

シリコンウェーハの切断は主に半導体、オプトエレクトロニクス、太陽エネルギーの分野で使用されており、チップやオプトエレクトロニクス部品を製造するための重要なプロセスの1つです。